面對氫氣中ppb（十億分之一）級別的痕量雜質，傳統的檢測手段已力不從心?，F代氫氣純度分析的戰場，早已成為光譜學與色譜學兩大技術流派的“對決”。它們各施絕技，“捕獲”那些肉眼不可見卻足以致命的雜質分子。

在GB/T 16942-2009中，光腔衰蕩光譜法（CRDS） 被明確推薦用于水分（H?O）的測定。這項技術的原理堪稱精妙：一束脈沖激光被射入由一對超高反射率鏡面構成的光學諧振腔內。在純凈的氫氣中，光在腔內來回反射，其強度衰減的時間（即“衰蕩時間”）是恒定的。當腔內存在水分子時，激光在特定波長被水分子吸收，導致光能損失加劇，衰蕩時間顯著縮短。通過精確測量這一時間差，即可反演出水分子的濃度。

其優勢在于靈敏度極高（檢測限可達0.05 ppm），響應速度快，且實現了非接觸式測量，避免了采樣污染，完美契合了電子工業對超高純度和在線監控的需求。

而色譜技術，尤其是氣相色譜法（GC），則在多組分分析中占據統治地位。GB/T 37244-2018和GB/T 16942-2009均將GC作為一氧化碳、二氧化碳、總烴等雜質的仲裁方法。其核心在于“分離”與“檢測”。樣品氣在載氣推動下通過色譜柱，不同組分因在固定相中溶解度的差異而實現分離，先后到達檢測器。對于氫氣這種背景氣，氦離子化檢測器（PDHID） 是理想選擇，它對幾乎所有雜質都有高響應，且不受氫氣背景的干擾。

更前沿的 硫化學發光檢測器（SCD），被ASTM D7652（GB/T 37244引用）用于總硫檢測，它對硫化物具有極高的選擇性和靈敏度，能將硫元素轉化為激發態的SO?，通過測量其發光強度來定量，有效避免了其他組分的干擾。

這場“對決”并非零和博弈。在實際應用中，往往是多種技術的聯用。例如，先用GC分離復雜組分，再用CRDS或SCD等高選擇性檢測器進行精確定量。正是這些技術的協同作戰，才使得我們有能力對氫氣進行全方位的“體檢”，為高純度氫氣的應用保駕護航。